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深圳市同建科技取得用于沉金线工艺的板厚检测仪器专利解决了 PCB 电路板金层厚度检测麻烦的问题

作者: 李保力  日期:2024-12-28 15:03:15  点击数:

  

深圳市同建科技取得用于沉金线工艺的板厚检测仪器专利解决了 PCB 电路板金层厚度检测麻烦的问题(图1)

  金融界 2024 年 12 月 28 日消息,国家知识产权局信息显示,深圳市同建科技有限公司取得一项名为“一种用于沉金线工艺的板厚检测仪器”的专利,授权公告号 CN 222211484 U,申请日期为 2024 年 5 月。

  专利摘要显示,本实用新型公开了一种用于沉金线工艺的板厚检测仪器,涉及检测仪器领域,为解决现有技术中的 PCB 电路板沉金工艺处理后,需要对 PCB 电路板厚度进行监测,以确定金层厚度,目前 PCB 电路板金层厚度检测通常采用人工手动检测,较为麻烦的问题。所述支撑台内部的中部与上端面之间设置有缓冲槽,所述支撑台一侧上端固定连接有设置有检测台,所述支撑台上端中部固定连接有升降装置,所述升降装置一侧上端固定连接有延伸板,所述延伸板下端与支撑台上端面之间固定连接有测量标尺,所述延伸板下端设置有游标卡尺测量装置,所述游标卡尺测量装置内部的中部一侧设置有测量槽,所述游标卡尺测量装置一侧下端固定连接有检测板。

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关于作者

李保力先生是PG电子软件的高级技术顾问,拥有超过15年的电子元器件行业经验。他毕业于清华大学电子工程系,专注于半导体技术和集成电路领域的研究,曾参与多个国际知名元器件厂商的合作项目。李保力对XILINX、ALTERA、MAXIM等品牌的产品特性和应用有深入了解,致力于为客户提供专业、高效的技术支持和行业资讯。 在PG电子软件,李保力不仅负责技术支持,还参与行业趋势分析和市场需求预测。他的文章内容基于最新市场动态,结合实际经验,旨在帮助客户快速选择适合的元器件,优化产品设计流程。李保力先生秉承“质量为本,客户至上”的理念,与客户共同推动电子产业的高效发展。

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